正弦掃頻振動試驗臺應用性能：

1、全數(shù)字式架構設計：MCU+DSP+FPGA協(xié)同處理架構;

2、采用多級閉環(huán)控制策略，引入先進的數(shù)字控制算法，具有的功率輸出性能;

3、模塊化設計，根據(jù)輸出功率需求自由擴展;

4、基于軟啟動技術，開關頻率高達150KHz，具有優(yōu)秀的噪聲特性;

5、采用IGBT新型功率器件，具有高耐壓、高功率、高可靠性;

6、采用自動均流策略，并聯(lián)均流不平衡度<1%。

正弦掃頻振動試驗臺應用執(zhí)行標準：

GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動(正弦)

GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬頻帶隨機振動-一般要求

GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda 寬頻帶隨機振動-高再現(xiàn)性

GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb 寬頻帶隨機振動-中再現(xiàn)性

GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc 寬頻帶隨機振動-低再現(xiàn)性

GB/T2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法

GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff：振動-時間歷程法

GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe：振動-正弦拍頻法

試驗臺垂直擴展臺面及水平滑臺：

當試驗件的尺寸大于電動振動臺的臺面尺寸，增加輔助用的垂直擴展臺和水平滑臺可以滿足客戶對于振動臺性能擴展的要求，增加試驗附加裝置的安裝面積。擴展臺面的材料可選擇較輕的鎂合金或者更為經(jīng)濟的鋁合金制成。高質(zhì)量的精加工鑄造工藝保證擴展臺面擁有更好的強度重量比和更好的頻率傳遞率。

試驗規(guī)格：

用戶根據(jù)產(chǎn)品要求選購：